測量元器件和電路的頻率響應特性是確保電子設備性能的關鍵步驟。在從低頻至高頻的各種頻率范圍內(nèi)對各類元器件和電路進行測量非常必要。

　　

　　在這些應用中，是德E5063A網(wǎng)絡分析儀在確保低頻模擬電路器件（例如傳感器系統(tǒng)和電源部件）實現(xiàn)穩(wěn)定可靠工作方面具有重要作用。為此，您需要在了解射頻網(wǎng)絡分析（S參數(shù)測量）的同時，也需要很好地對低頻網(wǎng)絡分析（增益相位測量）的應用有所了解。

　　

　　首先，針對使用低頻網(wǎng)絡分析儀測量2端口器件的傳輸特性的配置，我們簡要介紹一下典型的被測器件的連接方法。是測量50Ω的器件的傳輸響應特性，例如：濾波器和電纜。

　　

　　使用是德E5063A網(wǎng)絡分析儀的增益相位測試端口進行此類測試的配置情況。R通道接收機（VR）用于測量在50Ω系統(tǒng)阻抗的激勵源的輸出電壓（50Ω傳輸線輸入信號的電壓），T通道接收機（VT）用于測量經(jīng)過被測器件傳輸之后輸出信號的電壓，然后儀表計算測量到的電壓比（VT/VR），即可得到傳輸系數(shù)S21。

　　

　　在S參數(shù)測試端口的后邊有多個內(nèi)置的定向橋，因此無需使用從外部接入測量配置中的功率分離器。大部分情況下，S參數(shù)測試端口用于測量50Ω的器件的傳輸響應特性。

　　

　　對于大部分50Ω器件的傳輸響應特性的測試情況，使用是德E5063A網(wǎng)絡分析儀的S參數(shù)測試端口就可以了。

　　

　　但是，對于大衰減器件的測量，例如：測量DC-DC轉(zhuǎn)換器和大電容旁路電容器的只有毫歐量級的阻抗時，通常需要采用分流直通的測量方法，這種傳輸響應特性的測量就要使用儀表的增益相位測試端口而不是S參數(shù)測試端口進行測量。

　　

　　在這種情況下，增益相位測試端口接收機的半浮地結(jié)構(gòu)可以避免低頻范圍的測量誤差，該誤差是由激勵號源與接收機之間測試電纜的接地環(huán)路引起的（稍后會有詳細介紹）。